同じ装置で同じ条件のもとで成膜しても、完成品のデータは異なることがあります。数字は要求スペックを満たしていても基準となるデータと少しでも差があると、そこから生まれる半導体デバイスの品質に個体差が生じてしまいます。私たちは、出てきたデータをいろいろな角度から見る必要があります。そして、データの差異の原因を推測して、問題解決の糸口を導き出すこと、それが私の技術です。

完成品の状態について、お客様とエンジニアの基準がずれてしまう場合もあります。お客様はエンドユーザーの期待に応えたい一心ですから、私たちへの要求も高くなるのは当然です。私は出荷判断をするのですが、その判断が甘いと、完成した装置を調整する作業が発生してしまいます。つまりお客様にもエンジニアにも余計な負荷がかかる。自分自身の判断がブレないようにしながら、お客様とエンジニアそれぞれの意見を聞き、双方に最善となる着地点を模索していきます。